3504-40 - C HiTESTER
C HiTester, C, D, test MLCC a grande capacità, frequenza della sorgente di test: 120 Hz o 1 kHz, tempo di misura: 2 ms, interfaccia RS-232C integrata.
C HiTester, C, D, test MLCC a grande capacità, frequenza della sorgente di test: 120 Hz o 1 kHz, tempo di misura: 2 ms, interfaccia RS-232C integrata.
C HiTester, C, D, test MLCC a grande capacità, frequenza della sorgente di test: 120 Hz o 1 kHz, tempo di misura: 2 ms, interfaccia RS-232C integrata, funzione BIN.
C HiTester, C, D, test MLCC a grande capacità, frequenza della sorgente di test: 120 Hz o 1 kHz, tempo di misura: 2 ms, interfaccia RS-232C integrata, funzioni BIN e contact check.
Misuratore C, C, D, Q, test a bassa capacità, frequenza della sorgente di test: 1 kHz o 1 MHz, tempo di misurazione: 1,5 ms (1 MHz), interfaccia RS-232C e GPIB integrata.
Unità di tensione DC BIAS, a connessione diretta, da 40 Hz a 8 MHz.
Unità di corrente DC BIAS, a connessione diretta, da 40 Hz a 2 MHz.
Il misuratore di LCR Chroma 11021 dispone di frequenze di test di 100Hz, 120Hz, 1kHz e 10kHz, fino 50 KHz la versione 11012-L. le capacità di misurazione ad alta velocità e stabili consentono di utilizzare i Chroma 11021
Il misuratore di LCR Chroma 11021 dispone di frequenze di test di 100Hz, 120Hz, 1kHz e 10kHz, fino 50 KHz la versione 11012-L. le capacità di misurazione ad alta velocità e stabili consentono di utilizzare i Chroma 11021...
Il misuratore di LCR Chroma 11021 dispone di frequenze di test di 100Hz, 120Hz, 1kHz e 10kHz, fino 50 KHz la versione 11012-L. le capacità di misurazione ad alta velocità e stabili consentono di utilizzare i Chroma 11021 ...
Il misuratore LCR Chroma serie 11050 HF è uno strumento di prova di precisione progettato per misurare e valutare accuratamente i componenti passivi ad alta velocità.
Il misuratore LCR Chroma serie 11050 HF è uno strumento di prova di precisione progettato per misurare e valutare accuratamente i componenti passivi ad alta velocità.
Il misuratore LCR Chroma serie 11050 HF è uno strumento di prova di precisione progettato per misurare e valutare accuratamente i componenti passivi ad alta velocità.
Il Chroma 11200 è un misuratore delle correnti di dispersione nei condensatori e miuratore IR di resistenza di isolamento. Fornisce un tensione di prova DC 1-650 V, 0,5 mA ~ 500 mA (150 mA per V> 100 V) DC come sorgente di alimentazione con misuratore di tensione e misuratore nA.
Appositamente progettato per misurare la corrente di leakage e la resistenza di isolamento delle batterie agli ioni di litio (batterie a secco/jelly roll).Il Chroma 11210 misura anche condensatori solidi, condensatori ceramici multistrato (MLCC),
L'IM3523 è progettato per la misurazione di base sulle linee di produzione affidabile, veloce e con un Prezzo competitive.
Misuratore LCR, |Z|, L, C, R Test, frequenza della sorgente di test: da 40 Hz a 200 kHz, tempo di misura: 2 ms, con interfaccia LAN.
La serie IM3533 è il primo misuratore LCR di Hioki ad offrire la misura del rapporto di trasformazione , induttanza reciproca e differenza di induttanza di trasformatori e bobine, e con funzione DC BIAS interna per facilitare i test di conformità HDMI.
La serie IM3533 è il primo misuratore LCR di Hioki ad offrire la misura del rapporto di trasformazione , induttanza reciproca e differenza di induttanza di trasformatori e bobine, e con funzione DC BIAS interna per facilitare i test di conformità HDMI.
L'IM3536 è un misuratore LCR per uso generale offre un'ampia frequenza di test, DC e da 4Hz a 8MHz con un'accuratezza dello 0,05%, ideale per valutare le caratteristiche dei componenti elettronici di prossima generazione,
L'IM3570 è ideale per l'uso in applicazioni che richiedono misurazioni a basso ESR nell'ordine di diversi milliohm, ad esempio test di condensatori polimerici funzionali, grazie alla sua ripetibilità a bassa impedenza.
L'analizzatore di impedenza IM3590 è un tester avanzato per componenti particolarmente adatto alle misurazioni di impedenza elettrochimica e include una varietà di funzioni grafiche necessarie per i test di batterie e materiali chimici.
Misura LCR ed esegue sweep di frequenza, sweep di livello e misurazioni degli intervalli di tempo in modalità Analizzatore , Comparatore e Contact Check Ideale per R&D e alti volumi di produzione di microsfere di chip di ferrite e induttori di chip
Misura LCR ed esegue sweep di frequenza, sweep di livello e misurazioni degli intervalli di tempo in modalità Analizzatore , Comparatore e Contact Check Ideale per R&D e alti volumi di produzione di microsfere di chip di ferrite e induttori di chip
Misura LCR ed esegue sweep di frequenza, sweep di livello e misurazioni degli intervalli di tempo in modalità Analizzatore Comparatore e Contact Check
Ideale per R&D e alti volumi di produzione di microsfere di chip di ferrite e induttori di chip
Misura LCR ed esegue sweep di frequenza, sweep di livello e misurazioni degli intervalli di tempo in modalità Analizzatore
Comparatore e Contact Check Ideale per R&D e alti volumi di produzione di microsfere di chip di ferrite e induttori di chip
Misura LCR ed esegue sweep di frequenza e di livello e misurazioni degli intervalli di tempo in modalità Analizzatore Comparatore e Contact Check , Ideale per R&D e alti volumi di produzione di microsfere di chip di ferrite e induttori di chip
Misura LCR ed esegue sweep di frequenza e di livello e misurazioni degli intervalli di tempo in modalità Analizzatore Comparatore e Contact Check , Ideale per R&D e alti volumi di produzione di microsfere di chip di ferrite e induttori di chip
Misura LCR ed esegue sweep di frequenza, sweep di livello e misurazioni degli intervalli di tempo in modalità Analizzatore Comparatore e Contact Check,Ideale per R&D e alti volumi di produzione di microsfere di chip di ferrite e induttori di chip
Misura LCR ed esegue sweep di frequenza, sweep di livello e misurazioni degli intervalli di tempo in modalità Analizzatore Comparatore e Contact Check,Ideale per R&D e alti volumi di produzione di microsfere di chip di ferrite e induttori di chip
Misura LCR ed esegue sweep di frequenza, sweep di livello e misurazioni degli intervalli di tempo in modalità Analizzatore Comparatore e Contact Check
Ideale per R&D e alti volumi di produzione di microsfere per chip di ferrite e induttori di chip
Misura LCR ed esegue sweep di frequenza, sweep di livello e misurazioni degli intervalli di tempo in modalità Analizzatore Comparatore e Contact Check
Ideale per R&D e alti volumi di produzione di microsfere per chip di ferrite e induttori di chip
Firmware per l'analisi dei circuiti equivalenti, software opzionale integrato nell'IM3570.
Apparecchio di prova SMD, tipo a connessione diretta, SMD con elettrodi sul fondo, DC fino a 8MHz.
Apparecchio di prova SMD, connessione diretta a due terminali di misura, DC fino a 1 MHz.
Supporto di prova, con lente d'ingrandimento, per la serie IM7580.
Apparecchio di prova SMD, tipo di misura a due terminali con connessione diretta, DC fino a 3 GHz, dimensioni del campione misurabile: da 0201 a 1210 (EIA), per la serie IM7580.
Punte di contatto, per sostituire la punta dell'L2001, misura: regular.
Kit di calibrazione, set aperto/corto/carico, per la serie IM7580.
Adattatore, conversione da 3,5 mm maschio a 7 mm, per la serie IM7580
GW Instek introduce la serie LCR-6000, che, con cinque modelli, la gamma di frequenza di prova che si estende da 2kHz/20kHz/100kHz/200kHz/300kHz (massima) e con una precisione di base dello 0,05%.
GW Instek introduce la serie LCR-6000, che, con cinque modelli, la gamma di frequenza di prova che si estende da 2kHz/20kHz/100kHz/200kHz/300kHz (massima) e con una precisione di base dello 0,05%.
GW Instek introduce la serie LCR-6000, che, con cinque modelli, la gamma di frequenza di prova che si estende da 2kHz/20kHz/100kHz/200kHz/300kHz (massima) e con una precisione di base dello 0,05%.
GW Instek introduce la serie LCR-6000, che, con cinque modelli, la gamma di frequenza di prova che si estende da 2kHz/20kHz/100kHz/200kHz/300kHz (massima) e con una precisione di base dello 0,05%.
GW Instek introduce la serie LCR-6000, che, con cinque modelli, la gamma di frequenza di prova che si estende da 2kHz/20kHz/100kHz/200kHz/300kHz (massima) e con una precisione di base dello 0,05%.
GW Instek serie LCR-8200, LCR ad alta frequenza dispone di quattro modelli e la frequenza massima di prova è di 30MHz. L'intera serie adotta un display a colori da 7 pollici e presenta un'elevata precisione di misurazione
GW Instek serie LCR-8200, LCR ad alta frequenza dispone di quattro modelli e la frequenza massima di prova è di 30MHz. L'intera serie adotta un display a colori da 7 pollici e presenta un'elevata precisione di misurazione (0,08%).
GW Instek serie LCR-8200, LCR ad alta frequenza dispone di quattro modelli e la frequenza massima di prova è di 30MHz. L'intera serie adotta un display a colori da 7 pollici e presenta un'elevata precisione di misurazione (0,08%).
GW Instek serie LCR-8200, LCR ad alta frequenza dispone di quattro modelli e la frequenza massima di prova è di 30MHz. L'intera serie adotta un display a colori da 7 pollici e presenta un'elevata precisione di misurazione (0,08%).
GW Instek serie LCR-8200, LCR ad alta frequenza dispone di quattro modelli e la frequenza massima di prova è di 30MHz. L'intera serie adotta un display a colori da 7 pollici e presenta un'elevata precisione di misurazione (0,08%).
Misuratore LCR palmare 100Hz-10KHz,accuracy:0.1%,Test rate:20 rdgs/s,USB,3.7V 1800mA lithium battery
Misuratore LCR palmare 100Hz-100KHz,accuracy:0.1%,Test rate:20 rdgs/s,USB,3.7V 1800mA lithium battery